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绝缘阻力电阻试验设备

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  • 深圳世纪天源仪器有限公司
  • 联系人:涂美兰(女士)销售
  • 电话:13570829212
  • 手机:13570829212
  • 传真:0755-23155853
  • 地址:深圳市宝安区民治街道皇嘉梅陇公馆A913
产品简介
 可对离子迁移绝缘电阻值进行高精度高信赖性高效率的评价。

从当今的地球市场环境来看,省能源/无卤素小型轻量低价格高信赖等观点出发的,

新素材新实装方法的研究开发评价方法的重估是必须的。

J-RAS公司把握市场的需要,为您提供容易操作而且可以进行高信赖性评价试验的,

新时代离子迁移实验装置 ECM-100系列

 

简介离子迁移实验装置是一种信赖性试验设备,原理为印刷电路板上给予一固定的直流

电压(BIAS VOLTAGE),经过长时间的测试(11000小时)并观察线路是否有瞬间短路的

现象发生(ION MIGRATION),并记录阻抗变化状况,故又叫做CAF试验,绝缘阻力电阻试验,或者是OPEN/SHORT试验,我们将其统称为绝缘劣化试验。(ION MIGRATION TESTING)

适用规格JPCA-ET01-2001

离子迁移、电迁移、在PCB中离子迁移的危害与对策

PCB离子迁移研究及其故障分析 /SIR表面绝缘电阻测试系统

线路板表面绝缘电阻检测/PCB表面绝缘电阻

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